Längd- och vinkelmätning
- +Ämnesområden
- +Metrologi och mätning. Fysikaliska fenomen (6)
- Metrologi och mätning: allmänt (0)
- +Längd- och vinkelmätning (2)
- Längd- och vinkelmätning: allmänt (0)
- Toleranser och passningar (1)
- Ytegenskaper (1)
- Mätinstrument (0)
- Geometriska produktspecifikationer (GPS) (2)
- Övriga standarder inom längd- och vinkelmätning (0)
- Mätning av volym, massa, densitet, viskositet (0)
- Mätning av tid, hastighet, acceleration, vinkelhastighet (0)
- Mätning av kraft, tyngd och tryck (0)
- +Mätning av vätskeflöde (0)
- +Akustik och bullermätning (0)
- Vibrationer och stöt. Vibrationsmätning (0)
- +Optik och optisk mätning (0)
- +Termodynamik och temperaturmätningar (0)
- +Elektricitet. Magnetism. Mätning av elektriska och magnetiska storheter (0)
- Strålningsmätning (4)
Kommittébeteckning: SIS/TK 507/AG 05
(ISO GPS - Toleranser)
Källa: CEN
Svarsdatum: den 22 apr 2026
This document specifies rules for restrained states.
Ämnesområden:
Ytegenskaper; Geometriska produktspecifikationer (GPS); Metrologi och mätning. Fysiskaliska fenomen (Ordlistor)
Kommittébeteckning: SIS/TK 507/AG 06
(ISO GPS - Mätteknik och Ytstruktur)
Källa: CEN
Svarsdatum: den 6 maj 2026
ISO 25178-6:2010 describes a classification system for methods used primarily for the measurement of surface texture. It defines three classes of methods, illustrates the relationships between the classes, and briefly describes specific methods.