Detaljer om förslaget

Svensk titel: Oorganiska ytbeläggningar - Mätning av skikttjocklek med svepelektronmikroskop (ISO/DIS 9220:2021)
Nummer:prEN ISO 9220
Källa:CEN
Kommitté:SIS/TK 116
Namn på kommittén:Oorganiska ytbeläggningar
Publicerat:den 7 apr 2021
Sista svarsdatum:den 2 jun 2021
Contact email:kommentera(at)sis.se
Förslagets omfattning:

This document specifies a destructive method for the measurement of the local thickness of metallic coatings (hereafter also other inorganic coatings are meant) by examination of cross-sections with a scanning electron microscope (SEM). The method can be used for thicknesses up to several millimetres, but for such thick coatings it is usually more practical to use a light microscope (ISO 1463) when applicable. The lower thickness limit depends on the achieved measurement uncertainty (see Clause 10).

Detta dokument föreslås att fastställas och publiceras som svensk standard.

För att lämna allmänna kommentarer på standardförslaget i sin helhet och på föreslagen titel – klicka på förslagets titel.

För att lämna specifika kommentarer på innehållet – skriv kommentaren och föreslagen ändring i rutan under avsnittet i fråga.

Standardförslag på engelska föreslås att fastställas som svensk standard utan översättning. Kommentarer på engelskspråkiga standardförslag bör vara på engelska.

För att ett standardförslag ska kunna fastställas som svensk standard måste det vara förenligt med svensk lagstiftning. Det är således viktigt att berörda svenska myndigheter klarlägger ifall standardförslaget är förenligt med svensk lagstiftning.