Detaljer om förslaget

Nummer:prEN ISO 25178-607
Källa:CEN
Kommitté:SIS/TK 507/AG 06
Namn på kommittén:ISO GPS - Mätteknik och Ytstruktur
Publicerat:den 16 okt 2026
Sista svarsdatum:den 16 dec 2026
Ämnesområden:Ytegenskaper
Contact email:kommentera(at)sis.se
Förslagets omfattning:

This document describes the influence quantities and instrument characteristics of confocal microscopy systems for areal measurement of surface topography. Because surface profiles can be extracted from surface topography images, the methods described in this document can be applied to profiling measurements as well.

Detta dokument föreslås att fastställas och publiceras som svensk standard.

För att lämna allmänna kommentarer på standardförslaget i sin helhet och på föreslagen titel – klicka på förslagets titel.

För att lämna specifika kommentarer på innehållet – skriv kommentaren och föreslagen ändring i rutan under avsnittet i fråga.

Standardförslag på engelska föreslås att fastställas som svensk standard utan översättning. Kommentarer på engelskspråkiga standardförslag bör vara på engelska.

För att ett standardförslag ska kunna fastställas som svensk standard måste det vara förenligt med svensk lagstiftning. Det är således viktigt att berörda svenska myndigheter klarlägger ifall standardförslaget är förenligt med svensk lagstiftning.