Detaljer om förslaget

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Tagged image file format for Scanning electron microscopy(TIFF/SEM)

Nummer:ISO/DIS 20171

Kommitté:SIS/TK 121

Sista svarsdatum:den 13 aug 2018

Detta förslag är inte längre tillgängligt för att läsas. Inlämnade kommentarer har samlats in och kommer att behandlas av ansvarig kommitté.