Detaljer om förslaget

Vitreous and porcelain enamels - Low-voltage test for detecting and locating defects - Part 1: Swab test for non-profiled surfaces (ISO/DIS 8289-1:2019)
Nummer:prEN ISO 8289-1
Kommitté:SIS/TK 116
Sista svarsdatum:den 22 maj 2019
 
Detta förslag är inte längre tillgängligt för att läsas. Inlämnade kommentarer har samlats in och kommer att behandlas av ansvarig kommitté.